賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160RT Series

更新時間：2024-12-11

產品型號：X-eye SF160RT Series

簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160RT Series：半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。

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    賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160RTSeries簡介：

    1、半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備

    2、DetectorX-tlt與Y-tiltAxis增加2.5Dview的自由度

    3、Multi-layerPCB佳的檢測方案

    4、可安裝Oblique/Cone-beamCT

    5、賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160RTSeries選配AXIS/W功能可進行量產檢測

    1.賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ERSeries：

    ·精密分析及3Dview佳的檢測設備

    ·半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備

    ·可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現產品全檢

    ·通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測，提供高分辨率

    ·高精度的分析檢測環(huán)境

    2.賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/NSeries：

    ·精密分析及2.5Dview佳檢測設備Detectorrotation,簡便·快速獲取2.5Dviev最大可實現900x900mm的Tablesize,可檢測大型PCB和LED

    ·選配AXIS/W功能可進行量產檢測

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